单次射频连接测量 -开心体育

您的任务

射频组件表征通常包括测量调制精度、匹配度或完整的 s 参数。调制精度通过误差矢量幅度 (evm) 或误码率 (ber) 等参数测量设备的传输性能。射频组件表征还会测量组件是否符合带外发射和邻道泄漏比 (aclr) 等监管要求。匹配测量可确保组件在系统中按设计运行，例如在特定天线阻抗下实现额定功率传输。测试时间是一个关键参数，提高测试速度可有效降低成本。

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调制精度测量需要使用全调制信号来激励被测设备 (dut)，以确保其性能与实际应用中一致。测试系统中的宽带矢量信号发生器 (vsg) 为 dut 提供输入信号。

为测量诸如 evm 或 ber 的真实性能指标，需要使用宽带矢量信号分析仪 (vsa)，并搭配一个或一组符合 dut 使用场景的测量应用（符合标准或自定义）。尽管可以基于窄带测量结果估算 evm，但要获得符合标准的真实 evm、ber 或数字预失真 (dpd) 指标，通常仍需借助宽带 vsa 和配套测量应用。

aclr 等监管测量通常只需使用具备大动态范围的窄带频谱分析仪。在一些测试场景中，测试速度比动态范围更重要。信号与频谱分析仪组合可以平衡速度和动态范围，满足特定测试场景的需求。和监管测量一样，匹配测量和 s 参数测量通常也需要权衡动态范围和速度。矢量网络分析仪 (vna) 提供了所需的灵活性。

应用

如前所述，射频组件测试至少需要三种不同的测试与测量功能（evm、aclr 和 s 参数），而且通常具有不同的性能要求。除此之外，测试时间也是一个关键参数。更换射频线缆既耗时，又需要人工操作，是导致测量误差的常见原因。

因此，减少射频连接次数能够显著降低测试成本。下图展示了一种满足上述所有要求的测试架构：

• 单次射频连接
• vna 适用于高度灵活的匹配测量
• vsg/vsa 组合适合真实场景测量，包括 evm、dpd 和 ber 测量

整个测试架构还包括两个标准耦合器。耦合器可根据动态范围和频率范围要求进行选择。

耦合器 1 将 vsg 和其中一个 vna 端口连接到 dut 输入端，耦合器 2 将 vsa 和另一个 vna 端口连接到 dut 输出端。耦合器的直通端口用于调制宽带测量，因为此类测量对信噪比 (snr) 要求非常严格。利用连续波 (cw) 激励信号，vna 可通过减少滤波器带宽等方式来补偿降低的 snr。

vna 测量和校准以输入端的 3/4 校准平面和输出端的 5/6 校准平面为参考。vsg 和 vsa 均支持去嵌（例如用于外部耦合器）。

使用三个独立仪器可进一步提升测量架构的灵活性：vsg 和 vsa 可以选择具备最大带宽与最高性能的高端仪器，而 vna 测量只需使用中档仪器，反之亦然。

总结

上述测试架构能够灵活满足不同的测试需求，还具备一个附加优势，只需通过一个射频接口连接至 dut。