射频/微波被测设备去嵌 -开心体育
r&s®smw200a 矢量信号发生器具有出色的实时基带性能,并且能够通过 s2p 文件轻松导入有源/无源双端口互连网络的散射参数,因此非常适合需要对被测设备 (dut) 进行去嵌的高精度射频和微波测试。
r&s®smw200a 矢量信号发生器具有出色的实时基带性能,并且能够通过 s2p 文件轻松导入有源/无源双端口互连网络的散射参数,因此非常适合需要对被测设备 (dut) 进行去嵌的高精度射频和微波测试。
像大多数射频测试仪器一样,射频/微波矢量信号发生器 (vsg) 在其同轴射频/微波接口处进行校准,该接口被定义为参考平面 (rp)。这意味着所有 vsg 性能参数(例如,电平不确定度、频率响应平坦度等)均被指定用于该接口。
然而,被测设备 (dut) 通常不直接连接到此同轴 vsg 接口,而是通过由电缆、衰减器、放大器、开关、测试夹具甚至天线组成的有源/无源双端口互连网络进行连接。
特别是对于宽带微波信号,在 dut 连接到互连网络的 dut 平面 (dp) 处可以观察到频率响应平坦度(幅度/相位)显著降低。

这种影响并不新鲜,但是由于许多无线应用和产品支持更高的调制带宽 bwmod和射频/微波频率 frf,所以这种影响变得越来越重要。
为了实现精确的 dut 特征校准,因此必须考虑(去除)dut 平面处测试信号的这种无用互连特性。这个将参考平面从 vsg 输出端口移向 dut 输入端口的过程称为去嵌。

r&s®smw200a 矢量信号发生器在参考平面上具有出色的射频频率响应平坦度(在高达 2 ghz 的调制带宽内),规定值小于 1 db,测量值小于 0.4 db。
这种高端平坦度性能使 r&s®smw 成为各类射频/微波宽带测试应用的首选信号源,例如 lte 载波聚合、wi-fi/wlan、准 5g、5g 和雷达信号等。r&s®smw-k544 用户自定义频率响应校正 (udfrc) 功能将测试信号参考平面移动到 dut 的输入端口,从而将这种固有的 r&s®smw 频率响应平坦度转移到 dut 平面。通过导入 touchstone®s2p 文件(通过其散射参数 sxy描述双端口互连网络的传输和反射性能),直接在 r&s®smw 上对 dut 进行去嵌。
udfrc 非常灵活,最多可以导入 10 个描述互连网络不同部分(电缆、开关衰减器、放大器、天线等)的同步 s2p 文件。

所有导入的 s2p 文件可以由用户在运行过程中单独激活/取消激活。在级联式互连网络(多个 s2p 文件方案)的情况下,r&s®smw 会自动级联所有 s 参数矩阵。这需要了解频率响应校正适用于:
除了调制带宽内的频率响应校正之外,还可以使用基于激活的 s2p 文件的绝对射频电平校正。
r&s®smw-k544 去嵌步骤:
下图显示了 udfrc 功能。
蓝色迹线 (s) 描述 2 ghz调制带宽内 rp 处的出色频率响应平坦度。dp 处互连输出(纹波 ≈ 1.5 db,插入损耗 = 2.89 db)的情况以深蓝色迹线 (s i) 突出显示。将此频率响应映射到 s2p 文件中,并在 r&s®smw udfrc(应用绝对电平校正)中激活,我们将在 dut 输入处得到绿色频率响应 (val. s i)。
r&s®smw200a 矢量信号发生器配有 r&s®smw-k544 选件: